上海物光颗粒图像分析仪WKL-702(配置1国产显微镜)

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  • 品 牌 仪电物光|INESA
  • 型号 WKL-702
  • 咨询电话 021-63201318
商品详情

产品说明

适用于磨料、涂料、非金属矿、化学试剂、粉尘、填料等各种粉末颗粒的粒度测量、形貌观察和分析。


产品特征

软件功能及报告输出格式

1、可以对图像进行多项处理:如:影像增强、图像叠加、局部提取、定向放大、对比度、亮度调节等几十种功能。

2、具有圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数的基本测量。

3、可直接按颗粒粒径的粒径面积、形状等多类参数,以线性或非线性统计方式绘出分布图

4、WKL-702颗粒图像分析仪将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和粒度测量的颗粒分析系统,由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。

5、该系统通过专用的数字摄像机将显微镜的颗粒图像拍摄下来传输给电脑,通过专用的颗粒图像处理分析软件对图像进行处理分析,具有直观、形象、准确和测试范围宽等特点。可以观察颗粒形貌,也可得到粒度分布等分析结果。


技术参数

仪器型号

WKL-702

测量范围

0.1~3000(微米)

总放大倍数

8000倍

最大分辨率

0.1微米/像素

重复性

误差≤±1%

自动分割速度

≤1秒

数字摄像机(CCD)

500万像素

数据储存

电脑另配

通信接口

USB

操作系统

Windows 98/XP/7/8/10系统均可

电源

AC220V ±10% 200W

仪器尺寸

270mmX410mmX440mm

仪器净重

15kg